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USPTO PatentsView

PatentsView ist ein Werkzeug zur Analyse und Visualisierung von Patentdaten, das vom US-Patentamt kostenfrei zur Verfügung gestellt wird. Basis ist eine Datenbank des USPTO über einen Zeitraum von 40 Jahren, die Daten zu Erfindern, Organisationen, Orten und Patenten verbindet. Mit den Analyseoptionen Relationships, Locations, Comparisons werden diese Daten bezüglich Zitierhäufigkeit, Herkunftsorten von Anmeldern und Erfindern oder nach technischen Gebieten aufgeschlüsselt.

Die Funktion ListSearch erlaubt eine einfache Recherche im Titel sowie nach Klassen, Orten und Namen. Die Ergebnisse (nur US-Patente) können unter anderem als informative Grafik visualisiert werden, in der Unternehmen, Erfinder und Patente als Kreise repräsentiert werden, deren Fläche die Zahl der zugehörigen Patente bzw. Zitierungen wiedergibt. Weitere Informationen werden mit Mouseover bzw. Anklicken angezeigt.

www.patentsview.org