Category Archives: Patentrecherche

WissensWert Seminar zur Rechtsstandsinformation

Häufige Aufgabe im Patentwesen ist, die aktuelle rechtliche Situation bei einem Patent oder einer Patentanmeldung zu recherchieren. Die Patentämter geben Auskunft zu solchen Fragestellungen mithilfe verschiedener Informationsangebote, die kostenfrei über das Internet zugänglich sind.

Diese Informationsangebote der verschiedenen Patentämter werden vorgestellt im
WissensWert Seminar „Rechtsstandsrecherchen“. Außerdem bietet das Seminar viel Hintergrundwissen zu Rechts- und Verfahrensständen sowie zu den Patentregistern und Patentakten der Ämter. Anhand von praktischen Beispielen werden Rechtsstandsrecherchen bei den wichtigsten Patentämtern (u.a. EPA, DPMA, USPTO, WIPO) vorgestellt. Auch das Thema Patentüberwachung wird behandelt.

Die Teilnehmer erwerben Kenntnisse zur Nutzung der Patentinformationsquellen für die Ermittlung und Überwachung von Rechts- und Verfahrensständen bei den wichtigsten Patentämtern.

Termin:
18. Okt. 2018 in Heidelberg in Kooperation mit IP for IP

Eintägige Schulung zum Preis von 790 Euro zzgl. MwSt.Patentseminar, Patentseminare

Information und Anmeldung:
https://www.ipforip.com/veranstaltungen-1/patents-utility-models/rechtsstandsrecherchen/

Seminar Patentrecherche für Einsteiger

Seminar in Heidelberg: Patentrecherche für Einsteiger

Schritt für Schritt zur systematischen Patentrecherche

In diesem Seminar wird das Recherchieren nach Patenten vermittelt, zunächst in einer der wichtigsten kostenfreien Datenbanken Espacenet. An Beispielen werden die verschiedenen Recherchefälle behandelt: von der einfa­chen Suche mit Nummern nach Patentschriften über Suche nach Namen von Unternehmen und Erfindern bis zur Textrecherche mit technischen Begriffen.

Außerdem wird die Datenbank DEPATISnet vom Deutschen Patentamt als Alternative zu Espacenet vorgestellt und mit ihren zusätzlichen Funktionen an Beispielen erklärt. Ergänzend wird die praktische Nutzung der Patentklassifikation vermittelt, ein wichtiges Werkzeug für umfassende Patentrecherchen.

Mit einer Anleitung zur Bearbeitung der Rechercheergebnisse (Auswerten, Rechtsstand, Archivieren) und zur Erstellung eines Rechercheprotokolls wird das Seminar abgerundet.

Neben den fachlichen Details wird im Seminar Gewicht gelegt auf das Erlernen eines systematischen und daher effizienten, zeitsparenden Vorgehens. Nach diesem Seminar sind die Teilnehmer in der Lage, Recherchen für einen Überblick über die Patentsituation von Unternehmen sowie Basisrecherchen zum Stand der Technik selbständig und effizient durchzuführen.

Termin: 17. Oktober 2018 in Heidelberg in Kooperation mit der IP for IP GmbH

EPO Patentblatt online recherchieren

Für das Patentblatt des EPO gibt es eine Online-Recherchemöglichkeit, die eine detaillierte, strukturierte Suche im Inhalt des Patentblatts ab 1978 ermöglicht. Die Nutzung ist kostenfrei und ohne Anmeldung möglich.

Die Online-Patentblatt-Recherche ergänzt die Suche im EPO Register in all den Fällen, in denen vertiefte Recherchemöglichkeiten benötigt werden. Es kann sowohl nach den Daten von Patentanmeldungen gesucht werden als auch nach einzelnen Verfahrensschritten, z.B. Prüfungsantrag gestellt oder Lizenznehmer.

Die Recherche wird unterstützt durch eine Liste der verfügbaren Feldbezeichner, einen Index zu jedem Feldbezeichner und eine Auswahlmöglichkeit für Operatoren. Als Ergebnis wird eine Liste der ermittelten Veröffentlichungen angezeigt und für ein ausgewähltes Dokument die Registerinformationen, jeweils mit einer Auswahlmöglichkeit für die angezeigten Daten. Zur statistischen Auswertung eines Ergebnisses kann ein einfaches Werkzeug genutzt werden.

Ein 80-seitiger Nutzerleitfaden wird zum Herunterladen angeboten.

Der Link zur Einstiegsseite:
https://www.epo.org/searching-for-patents/legal/bulletin/ep-bulletin-search_de.html#tab1

Hinweis zu Patentscope

Vorteile bei der Nutzung eines eigenen PATENTSCOPE-Kontos

Es ist möglich, bei PATENTSCOPE kostenlos ein eigenes Nutzerkonto anzulegen (Einloggen –> Konto-Login). Das erweitert Ihre Möglichkeiten bei der Nutzung dieser Datenbank durch folgende Funktionen:

  • Abspeichern Ihrer bevorzugten Einstellungen, wie z. B. Voreinstellung der Suchoberfläche, die Länge der Liste mit den Suchergebnissen usw.
  • Abspeichern Ihrer Suchanfragen
  • Herunterladen Ihrer Ergebnislisten mit bis zu 10.000 Einträgen
  • Suchen nach chemischen Verbindungen

Für Ihre Registrierung können Sie diesen Link verwenden:
https://patentscope.wipo.int/search/de/reg/registration.jsf

Hinweis zu DEPATISnet

Bei DEPATISnet besteht die Möglichkeit die Trefferliste entsprechend dem eigenen Informationsbedarf zu gestalten: Neben Veröffentlichungsnummer und -datum kann auch das Anmeldedatum angezeigt werden sowie die verschiedenen Klassifikationsdaten, Namen und mehr. Für eine schnelle Relevanzprüfung ist es sinnvoll in der Trefferliste zusätzlich zum Titel auch die Zusammenfassung (Abstract) anzuzeigen, die wie der Titel auch Markierungen der Suchbegriffe enthält. Für eine bessere Übersichtlichkeit kann die Spaltenbreite durch Verschieben der Trennlinie zwischen den Spalten angepasst werden.

Seit zwei Jahren ist die Trefferlistenkonfiguration nicht nur zusammen mit der Suche möglich, sondern auch bei der Trefferanzeige. Das ist sehr praktisch, denn so kann man die Ansicht während der Relevanzprüfung wechseln, ohne die Suche wiederholen zu müssen.

Leider fehlt hier ein wichtiges Element für die Gestaltung der Trefferliste, nämlich das Festlegen der Länge. Diese kann nur in der Trefferlistenkonfiguration unterhalb der Suchmaske ausgewählt werden. Da die Länge der Trefferliste die Zeit für den Bildschirmaufbau bestimmt, wählt man hier meist nur 50 oder 100 Treffer. Will man dann eine größere Trefferliste komplett exportieren, muss man die Länge aber wieder ändern. Und dafür muss man zurück zur Suchmaske, die Änderung vornehmen und danach die Suche wiederholen. Ein zusätzlicher Arbeitsschritt, der auch noch zu unnötiger Systemlast führt.

WissensWert Webinare zur Patentrecherche

Die WissensWert Webinare zur Patentrecherche für Einsteiger und Fortgeschrittene sowie zu speziellen Themen werden als eineinhalbstündige Webinare durchgeführt.

  • Themen der Einsteigerseminare:
    Einführung in DEPATISnet, Espacenet, Klassifikation, Patentregister und mehr
  • Themen der Fortgeschrittenenseminare: Vertiefung zu DEPATISnet, Espacenet, Patentdatenbanken von USPTO, WIPO, Google und mehr
  • Themen der Spezialseminare: Spezielle Klassifikationen (JP, CPC), spezielle Recherchemethoden, z.B. Zitatrecherchen, und mehr

Die aktuelle Übersicht der Themen und Termine finden Sie hier
WissensWert Webinare Themen und Termine 2. Halbjahr 2018

Die Seminare werden in Kooperation mit der IP for IP GmbH durchgeführt. Informationen und Anmeldung: www.ipforip.com –> Webinare –> Webinare Recherche

In fünf Minuten können Sie in einem Schnupper-Webinar einen Überblick über die Inhalte der Webinare zur Patentrecherche bekommen:
www.ipforip.com/webinare/schnupper-webinar

Espacenet Volltextsuche mit der Smart search

Für die Espacenet Volltextrecherche stehen drei Volltextdatenbanken (Worldwide EN, FR oder DE) zur Verfügung. Um eine dieser Datenbanken für eine Recherche mit der Smart search auswählen zu können, verwenden Sie diesen Link:
http://worldwide.espacenet.com/singleLineSearch

Der neue Feldbezeichner extftxt ermöglicht Ihnen dann in einer der Volltextdatenbanken in allen Teilen einer Patentveröffentlichung (Titel, Zusammenfassung, Beschreibung und Ansprüche) nach Schlagwörtern in englischer, französischer bzw. deutscher Sprache zu suchen.

Der Feldbezeichner ftxt beschränkt wie bisher Ihre Schlagwortsuche auf die Beschreibung und die Ansprüche (ohne Titel, Zusammenfassung), während desc Ihre Suche auf die Beschreibung und claims auf die Ansprüche beschränkt.

Ein Recherchebeispiel hierzu: Die Suche nach dem Text „3d druck“ findet für das Jahr 2016 je nach Datenbank und Feldbezeichner folgende Ergebnisse:

Worldwide DE Datenbank
extftxt = „3d druck“ 2016 –> 293 Treffer
ftxt = „3d druck“ 2016 –> 281 Treffer
claims = „3d druck“ 2016 –> 56 Treffer

Worldwide Datenbank
txt= „3d druck“ 2016 –> 0 Treffer

Hintergrund: In der Worldwide Datenbank kann nur mit englischen Suchgegriffen recherchiert werden.

Unterschiedliche Rechercheergebnisse bei verschiedenen Patentdatenbanken

Sicher hat jeder Patentrechercheur, der verschiedene Patentdatenbanken benutzt, schon die Erfahrung gemacht, dass die gleiche Fragestellung zu unterschiedlichen Ergebnissen führt. Das ist oft nicht auf unterschiedliche Datenbestände zurückzuführen, sondern dafür gibt es andere Gründe, einen davon stelle ich im folgenden vor: die Behandlung von Patentfamilien durch die öffentlichen Patentdatenbanken DEPATISnet, Espacenet, PATENTSCOPE:

Bei der gleichen Anfrage, z.B. nach einer Patentklasse, ist es meistens so, dass bei DEPATISnet die Trefferzahl am größten ist. Das liegt daran, dass bei DEPATISnet jede Patentveröffentlichung nachgewiesen wird, welche die Recherchekriterien erfüllt. Nutzt man die Möglichkeit der Familienzusammenführung (Familienmitglieder löschen oder Familienmitglieder austauschen) verkleinert sich das Ergebnis, weil alle Patentveröffentlichungen aus einer Patentfamilie nur noch durch ein Familienmitglied vertreten werden.

Bei PATENTSCOPE werden alle zu einer Anmeldung gehörigen Patentveröffentlichungen (A-, B-, C-Schriften) zusammengeführt. Im Rechercheergebnis wird jede Anmeldung nachgewiesen, bei der wenigstens eine zugehörige Patentveröffentlichung die Recherchekriterien erfüllt. Eine Zusammenführung von Patentfamilien gibt es bei PATENTSCOPE nicht.

Espacenet weist jede Patentfamilie nach, in der mindestens ein Familienmitglied die Recherchekriterien erfüllt. Ein Familienmitglied steht also für alle Familienmitglieder und ihre zugehörigen Patentveröffentlichungen (A-, B-, C-Schriften). Allerdings erfolgt die Familienzusammenführung schrittweise jeweils für die angezeigte Trefferlistenseite. Daher  das Ergebnis mit „ca.“ angezeigt und verkleinert sich beim Blättern durch die Trefferliste, bis die ZUsammenführng vollständig ist. Enthält die Trefferliste weniger als 500 Treffer kann die Familienzusammenführung durch Sortieren der Liste herbeigeführt werden.

Darüberhinaus gibt es weitere Gründe für unterschiedliche Ergebnisse bei gleicher Recherchefrage. Zum Beispiel ist bei der Recherche mit Patentklassen ein Grund die Verfügbarkeit der verschiedenen Datenbestände für die Patentklassen. Hierzu mehr in einem späteren Post.

Einen Überblick über die Unterschiede bei den Patentdatenbanken DEPATISnet, Espacenet, PATENTSCOPE gibt das Webinar
*** Patentdatenbanken im Vergleich – Datenbestand und Funktionen auf dem Prüfstand
am 23. November 2018 um 9 Uhr
https://www.ipforip.com/webinare/webinare-patentrecherche-fortgeschrittene/patentdatenbanken-im-vergleich/

Hilfreich zum Verständnis von Patentfamilien ist das Webinar
*** Patentfamilien analysieren und verstehen
am 10. Dezember 2018 um 14 Uhr
https://www.ipforip.com/webinare/webinare-patentrecherche-spezial/patentfamilien-analysieren-und-verstehen/

WissensWert Newsletter März 2018 erschienen

Der WissensWert Newsletter März 2018 ist erschienen mit den Themen:

DEPATISnet, PATENTSCOPE, WIPO Standard ST.27, Studie zur Patentinformation, Plagiarius und mit der Lösung für ein Rechercheproblem.

Ein Abonnement des WissensWert Newsletters kann hier kostenlos bestellt werden: info@wissenswert-wm.de

WissensWert Seminare – Beratung Dr. G. Kirch-Verfuß

Überwachung der Patente von Wettbewerbern und in Technologiefeldern

Eine regelmäßige Patentüberwachung hilft Ihnen
– bei der Vermeidung von Patentverletzungen
– bei der Beobachtung der technischen Aktivitäten Ihrer Wettbewerber
– beim Auffinden von problematischen Konkurrenzanmeldungen, um Einspruch einzulegen
– beim Erkennen von Trends in Ihrem Technologiegebiet

WissensWert führt für Sie Patentüberwachungen auf vielen technischen Gebieten durch, u.a. auf den Gebieten Chemie (z.B. polymere Werkstoffe), Maschinenbau (z.B. Baumaschinen), Feinmechanik (z.B. Spezialmikroskope), Elektrotechnik (z.B. mechanische Bauteile für Steckverbinder). Auch die Überwachung von problematischen Konkurrenzanmeldungen können Sie bei uns in Auftrag geben.

Für Patentüberwachungen nutzen wir sowohl professionelle Recherchewerkzeuge und die Datenbanken und Register der Patentämter. Auf Wunsch führen wir eine Relevanzprüfung der Fundstellen durch. Die Ergebnisse bereiten wir nach Ihrem Bedarf auf: tabellarisch als Excel-Dokumente, Zusammenfassungen als Word-Dokumente, für einen Import in Ihre Inhouse-Datenbank oder als PDF-Dokumente der Patentschriften.

Gerne beraten wir Sie unverbindlich zu Ihrem Überwachungsbedarf, rufen sie an unter +49 261 9040 273

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