USPTO PatentsView

PatentsView ist ein Werkzeug zur Analyse und Visualisierung von Patentdaten, das vom US-Patentamt kostenfrei zur Verfügung gestellt wird. Basis ist eine Datenbank des USPTO über einen Zeitraum von 40 Jahren, die Daten zu Erfindern, Organisationen, Orten und Patenten verbindet. Mit den Analyseoptionen Relationships, Locations, Comparisons werden diese Daten bezüglich Zitierhäufigkeit, Herkunftsorten von Anmeldern und Erfindern oder nach technischen Gebieten aufgeschlüsselt.

Die Funktion ListSearch erlaubt eine einfache Recherche im Titel sowie nach Klassen, Orten und Namen. Die Ergebnisse (nur US-Patente) können unter anderem als informative Grafik visualisiert werden, in der Unternehmen, Erfinder und Patente als Kreise repräsentiert werden, deren Fläche die Zahl der zugehörigen Patente bzw. Zitierungen wiedergibt. Weitere Informationen werden mit Mouseover bzw. Anklicken angezeigt.

www.patentsview.org

Neuer Termin *** WissensWert-Seminar „Patentrecherche mit System“ ***

Bessere Ergebnisse von Patentrecherchen durch strukturiertes Vorgehen bei der Recherche und der Auswertung der Ergebnisse

Patentrecherchen erfordern meist beträchtlichen Zeitaufwand und viel Know-how. Für optimale Rechercheergebnisse ist neben der Kenntnis der Patentdatenbanken und ihrer Abfragemöglichkeiten ein strukturiertes Vorgehen bei der Recherchevorbereitung notwendig, ebenso wie effiziente Recherchestrategien und die Nutzung aller Möglichkeiten zur zeitsparenden Ergebnisaufbereitung.

Das Seminar „Patentrecherche mit System“ist konzipiert für Teilnehmer, die im Bereich der Patentrecherche tätig sind, regelmäßig recherchieren und Ihr Wissen vertiefen möchten. Die gängigen Recherchemethoden werden auf den Prüfstand gestellt, ein strukturiertes und gleichzeitig fallbezogenes Vorgehen sowie die systematische Organisation der Rechercheergebnisse werden vorgestellt.

Den Teilnehmern wird vermittelt, mit optimaler Strategie und geringem Aufwand gezielt vorzugehen und präzise die richtigen Ergebnisse zu selektieren und zu verarbeiten. Das Themenspektrum reicht vom Festlegen des Recherchethemas und des Patentrecherchetyps über die Auswahl von Suchbegriffen, Patentklassen und Datenbanken sowie Test- und Vorrecherchen bis zu iterativer Recherchedurchführung und Recherchebericht.

Termin: 17. Oktober 2017 in Hannover

Ganztägiges Präsenzseminar zum Preis von 690 Euro zzgl. MwSt.
Information und Anmeldung: www.wissenswert-seminare.de

Dieses Seminar wird in Kooperation mit der IP for IP GmbH durchgeführt. Patentseminar, Patentseminare

DPMAregister: EP-Dokumente in der Registerauskunft

Antwort des DPMA auf die Frage: Bei Eingabe eines deutschen Aktenzeichens, das mit „5…“ oder „6…“ beginnt, erhalte ich kein Originaldokument im pdf-Format angezeigt. Woran liegt das?

In DPMAregister verlinken wir bei Patenten, die seit dem 1. Oktober 2016 vom Europäischen Patentamt erteilt wurden, direkt auf die jeweilige europäische Patentschrift (im Feld „Veröffentlichte EP-/WO-Dokumente“), siehe zum Beispiel 60 2014 004 584.7. Sie können sich die EP-Patentschriften also direkt aus DPMAregister anzeigen lassen. Bei älteren Patentschriften müssen Sie sich die EP-Veröffentlichungsnummer notieren und diese dann über die Datenbank DEPATISnet aufrufen.

Zum Hintergrund: Seit Inkrafttreten des Londoner Übereinkommens im Mai 2008 müssen Sie für ein europäisches Patent (EP-Patent) keine deutsche Übersetzung mehr beim DPMA einreichen. Das DPMA veröffentlicht hier keine zusätzlichen deutschen Patentschriften (DE-Patentschriften), sondern vergibt lediglich ein deutsches Aktenzeichen.

Früher veröffentlichte das DPMA häufig parallel deutsche Übersetzungen europäischer Patentschriften, wenn die Wirkung für Deutschland eingetreten war. Dies war allerdings nur der Fall, wenn eine europäische Anmeldung nicht in deutscher Sprache eingereicht wurde und vom EPA somit nicht auf Deutsch veröffentlicht wurde. Das DPMA hat keine Übersetzungen europäischer Patentschriften publiziert, wenn das Europäische Patentamt ein EP-Patent auf Deutsch veröffentlicht hat. In diesen Fällen wurde nur ein deutsches Aktenzeichen vergeben, das mit „5…“ beginnt, siehe zum Beispiel 50 2010 000 814.4. Bei EP-Patenten, die in englischer oder französischer Sprache erschienen sind, beginnt das deutsche Aktenzeichen dagegen mit „6…“.

Quelle: DPMA

WissensWert Seminar „Patente verstehen – Patentansprüche analysieren“

Dieses WissensWert Patentseminar ist gedacht für Teilnehmer, die aus der Analyse von Patenten mit geringerem Zeitaufwand mehr Nutzen ziehen wollen. Es werden Methodenkenntnisse vermittelt für

  • Lesestrategien, um technisches Know-how schneller zu erfassen
  • Analysetechniken, um das Verständnis der Patentansprüche zu erleichtern
  • Schnelle Analyse und Bewertung von Rechercheergebnissen
  • Computerunterstützung bei der Patentarbeit

Mit Übungen an ausgewählten Patentschriften.

Termin: 16. Oktober 2017 in Hannover in Kooperation mit IP for IP

Für Information und Anmeldung bitte den Termin anklicken.

Dieses Seminar können wir auch bei Ihnen im Unternehmen durchführen. Gerne erstellen wir ihnen ein Angebot. Rufen Sie an (T: 02361-9040-273) oder schreiben Sie uns (Mail: info@wissenswert-wm.de).

USPTO Rejections

Gene Quinn hat in seinem Blog IPWatchdog einen interessanten Artikel geschrieben zum Thema „Understanding Patent Examiner Rejections“. Er behandelt
– Rejection of Claims
– Rejections Contrasted With Objections
– Rejections Based on Prior Art
– Final Rejection
mit vielen Links zu den entsprechenden Regelungen des US-Patentrechts.

Zu finden hier

WissensWert Inhouse-Schulung Patente und Patentrecherche

Ein WissensWert Seminar in Ihrem Unternehmen

Dieses Seminar ist für Mitarbeiter aus Forschung, Entwicklung, Konstruktion, die mit Patentarbeiten, z. B. Patentüberwachungsaufgaben, betraut sind und selbst gelegentlich Recherchen zum Stand der Technik durchführen.

Die Seminarteilnehmer erhalten die Basis für ein besseres Verständnis der Schutzrechte der Wettbewerber und Know-how für die Patentrecherche. Die Themen:

  • Patentrecht im Überblick
  • Patente verstehen – Patentansprüche analysieren
  • Einführung in die Patentrecherche mit der kostenfreien Datenbank Espacenet
  • Einführung in die Rechtsstandsrecherche und Patentüberwachung

Die Seminarthemen können im Detail an die Vorkenntnisse und den Bedarf der Teilnehmer angepasst werden. Gerne beraten wir Sie unverbindlich, rufen Sie uns einfach an: +49-2361-904-273. Oder schreiben Sie an info@wissenswert-wm.de und wir schicken Ihnen unser Informationsblatt Inhouse-Schulung oder auf Wunsch ein Angebot.

Patentdatenbanken – kostenfrei oder kommerziell

Seit fast 20 Jahren stellen die Patentämter für die Öffentlichkeit kostenfreie Patentdatenbanken bereit, zum Beispiel Espacenet, DEPATISnet und Patentscope. Auch einige Unternehmen (z.B. Google) bieten kostenfreie Patentrecherchen. Daneben gibt es eine Vielzahl an Patentinformationsprodukten, deren Nutzung kostenpflichtig ist. Die Frage, welches Produkt für den eigenen Bedarf das richtige ist, ist gar nicht so leicht zu beantworten.

In einem kurzen Artikel von Richard Garner, LexisNexis, werden einige Argumente aufgeführt für die Nutzung von kostenpflichtigen und von kostenfreien Patentdatenbanken.

http://knowledge.reedtech.com/intellectual-property-all-posts/free-vs-fee-research

1 2 3 35